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IP在EDA技術(shù)的應(yīng)用和發(fā)展中的意義

時(shí)間:2024-09-12 22:13:11 EDA技術(shù)培訓(xùn) 我要投稿
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IP在EDA技術(shù)的應(yīng)用和發(fā)展中的意義

  1、前言

  人類社會(huì)已進(jìn)入到高度發(fā)達(dá)的信息化社會(huì),信息社會(huì)的發(fā)展離不開(kāi)電子產(chǎn)品的進(jìn)步。 現(xiàn)代電子產(chǎn)品在性能提高、復(fù)雜度增大的同時(shí),價(jià)格卻一直呈下降趨勢(shì),而且產(chǎn)品更新?lián)Q代的步伐 也越來(lái)越快,實(shí)現(xiàn)這種進(jìn)步的主要原因就是生產(chǎn)制造技術(shù)和電子設(shè)計(jì)技術(shù)的發(fā)展。前者以微細(xì)加工 技術(shù)為代表,目前已進(jìn)展到深亞微米階段,可以在幾平方厘米的芯片上集成數(shù)千萬(wàn)個(gè)晶體管;后者 的核心就是EDA技術(shù)。EDA是指以計(jì)算機(jī)為工作平臺(tái),融合了應(yīng)用電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、智能化 技術(shù)最新成果而研制成的電子CAD通用軟件包,主要能輔助進(jìn)行三方面的設(shè)計(jì)工作:IC設(shè)計(jì),電子 電路設(shè)計(jì)以及PCB設(shè)計(jì)。沒(méi)有EDA技術(shù)的支持,想要完成上述超大規(guī)模集成電路的設(shè)計(jì)制造是不可 想象的,反過(guò)來(lái),生產(chǎn)制造技術(shù)的不斷進(jìn)步又必將對(duì)EDA技術(shù)提出新的要求。

  2、EDA技術(shù)的發(fā)展

  回顧近30年電子設(shè)計(jì)技術(shù)的發(fā)展歷程,可將EDA技術(shù)分為三個(gè)階段。

  七十年代為CAD階段,這一階段人們開(kāi)始用計(jì)算機(jī)輔助進(jìn)行IC版圖編輯和PCB布局布 線,取代了手工操作,產(chǎn)生了計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)的概念。

  八十年代為CAE階段,與CAD相比,除了純粹的圖形繪制功能外,又增加了電路功能設(shè) 計(jì)和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),并且通過(guò)電氣連接網(wǎng)絡(luò)表將兩者結(jié)合在一起,以實(shí)現(xiàn)工程設(shè)計(jì),這就是計(jì)算機(jī)輔助 工程的概念。CAE的主要功能是:原理圖輸入,邏輯仿真,電路分析,自動(dòng)布局布線,PCB后分析。

  九十年代為ESDA階段。盡管CAD/CAE技術(shù)取得了巨大的成功,但并沒(méi)有把人從繁重的 設(shè)計(jì)工作中徹底解放出來(lái)。在整個(gè)設(shè)計(jì)過(guò)程中,自動(dòng)化和智能化程度還不高,各種EDA軟件界面千 差萬(wàn)別,學(xué)習(xí)使用困難,并且互不兼容,直接影響到設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)間的銜接;谝陨喜蛔,人們開(kāi)始 追求貫徹整個(gè)設(shè)計(jì)過(guò)程的自動(dòng)化,這就是ESDA即電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)自動(dòng)化。

  3、ESDA技術(shù)的基本特征

  ESDA代表了當(dāng)今電子設(shè)計(jì)技術(shù)的最新發(fā)展方向,它的基本特征是:設(shè)計(jì)人員按照"自頂 向下"的設(shè)計(jì)方法,對(duì)整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行方案設(shè)計(jì)和功能劃分,系統(tǒng)的關(guān)鍵電路用一片或幾片專用集成 電路(ASIC)實(shí)現(xiàn),然后采用硬件描述語(yǔ)言(HDL)完成系統(tǒng)行為級(jí)設(shè)計(jì),最后通過(guò)綜合器和適配 器生成最終的目標(biāo)器件。這樣的設(shè)計(jì)方法被稱為高層次的電子設(shè)計(jì)方法,具體流程還將在4.2節(jié)中 做深入介紹。下面介紹與ESDA基本特征有關(guān)的幾個(gè)概念。

  3.1"自頂向下"的設(shè)計(jì)方法

  10年前,電子設(shè)計(jì)的基本思路還是選擇標(biāo)準(zhǔn)集成電路"自底向上"(Bottom-Up)地構(gòu) 造出一個(gè)新的系統(tǒng),這樣的設(shè)計(jì)方法就如同一磚一瓦地建造金字塔,不僅效率低、成本高而且還容 易出錯(cuò)。

  高層次設(shè)計(jì)給我們提供了一種"自頂向下"(Top-Down)的全新的設(shè)計(jì)方法,這種設(shè)計(jì) 方法首先從系統(tǒng)設(shè)計(jì)入手,在頂層進(jìn)行功能方框圖的劃分和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。在方框圖一級(jí)進(jìn)行仿真、糾 錯(cuò),并用硬件描述語(yǔ)言對(duì)高層次的系統(tǒng)行為進(jìn)行描述,在系統(tǒng)一級(jí)進(jìn)行驗(yàn)證。然后用綜合優(yōu)化工具 生成具體門電路的網(wǎng)表,其對(duì)應(yīng)的物理實(shí)現(xiàn)級(jí)可以是印刷電路板或?qū)S眉呻娐。由于設(shè)計(jì)的主要 仿真和調(diào)試過(guò)程是在高層次上完成的,這不僅有利于早期發(fā)現(xiàn)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上的錯(cuò)誤,避免設(shè)計(jì)工作的 浪費(fèi),而且也減少了邏輯功能仿真的工作量,提高了設(shè)計(jì)的一次成功率。

  3.2ASIC設(shè)計(jì)

  現(xiàn)代電子產(chǎn)品的復(fù)雜度日益加深,一個(gè)電子系統(tǒng)可能由數(shù)萬(wàn)個(gè)中小規(guī)模集成電路構(gòu) 成,這就帶來(lái)了體積大、功耗大、可靠性差的問(wèn)題,解決這一問(wèn)題的有效方法就是采用ASIC (Application Specific Integrated Circuits)芯片進(jìn)行設(shè)計(jì)。ASIC按照設(shè)計(jì)方法的不同可分 為:全定制ASIC,半定制ASIC,可編程ASIC(也稱為可編程邏輯器件)。

  設(shè)計(jì)全定制ASIC芯片時(shí),設(shè)計(jì)師要定義芯片上所有晶體管的幾何圖形和工藝規(guī)則,最 后將設(shè)計(jì)結(jié)果交由IC廠家掩膜制造完成。優(yōu)點(diǎn)是:芯片可以獲得最優(yōu)的性能,即面積利用率高、速 度快、功耗低。缺點(diǎn)是:開(kāi)發(fā)周期長(zhǎng),費(fèi)用高,只適合大批量產(chǎn)品開(kāi)發(fā)。

  半定制ASIC芯片的版圖設(shè)計(jì)方法有所不同,分為門陣列設(shè)計(jì)法和標(biāo)準(zhǔn)單元設(shè)計(jì)法,這 兩種方法都是約束性的設(shè)計(jì)方法,其主要目的就是簡(jiǎn)化設(shè)計(jì),以犧牲芯片性能為代價(jià)來(lái)縮短開(kāi)發(fā)時(shí) 間。

  可編程邏輯芯片與上述掩膜ASIC的不同之處在于:設(shè)計(jì)人員完成版圖設(shè)計(jì)后,在實(shí)驗(yàn) 室內(nèi)就可以燒制出自己的芯片,無(wú)須IC廠家的參與,大大縮短了開(kāi)發(fā)周期。

  可編程邏輯器件自七十年代以來(lái),經(jīng)歷了PAL、GAL、CPLD、FPGA幾個(gè)發(fā)展階段,其中 CPLD/FPGA屬高密度可編程邏輯器件,目前集成度已高達(dá)200萬(wàn)門/片,它將掩膜ASIC集成度高的 優(yōu)點(diǎn)和可編程邏輯器件設(shè)計(jì)生產(chǎn)方便的特點(diǎn)結(jié)合在一起,特別適合于樣品研制或小批量產(chǎn)品開(kāi)發(fā), 使產(chǎn)品能以最快的速度上市,而當(dāng)市場(chǎng)擴(kuò)大時(shí),它可以很容易的轉(zhuǎn)由掩膜ASIC實(shí)現(xiàn),因此開(kāi)發(fā)風(fēng) 險(xiǎn)也大為降低。

  上述ASIC芯片,尤其是CPLD/FPGA器件,已成為現(xiàn)代高層次電子設(shè)計(jì)方法的實(shí)現(xiàn)載 體。

  3.3硬件描述語(yǔ)言

  硬件描述語(yǔ)言(HDL-Hardware Description Language)是一種用于設(shè)計(jì)硬件電子 系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)語(yǔ)言,它用軟件編程的方式來(lái)描述電子系統(tǒng)的邏輯功能、電路結(jié)構(gòu)和連接形式,與傳 統(tǒng)的門級(jí)描述方式相比,它更適合大規(guī)模系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。例如一個(gè)32位的加法器,利用圖形輸入軟件 需要輸入500至1000個(gè)門,而利用VHDL語(yǔ)言只需要書寫一行A=B+C即可,而且VHDL語(yǔ)言可讀性強(qiáng), 易于修改和發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤。早期的硬件描述語(yǔ)言,如ABEL-HDL、AHDL,是由不同的EDA廠商開(kāi)發(fā)的,互 相不兼容,而且不支持多層次設(shè)計(jì),層次間翻譯工作要由人工完成。為了克服以上缺陷,1985年 美國(guó)國(guó)防部正式推出了VHDL(Very High Speed IC Hardware Description Language)語(yǔ)言, 1987年IEEE采納VHDL為硬件描述語(yǔ)言標(biāo)準(zhǔn)(IEEE STD-1076)。

  VHDL是一種全方位的硬件描述語(yǔ)言,包括系統(tǒng)行為級(jí)、寄存器傳輸級(jí)和邏輯門級(jí)多個(gè) 設(shè)計(jì)層次,支持結(jié)構(gòu)、數(shù)據(jù)流、行為三種描述形式的混合描述,因此VHDL幾乎覆蓋了以往各種硬件 描述語(yǔ)言的功能,整個(gè)自頂向下或自底向上的電路設(shè)計(jì)過(guò)程都可以用VHDL來(lái)完成。另外,VHDL還 具有以下優(yōu)點(diǎn): VHDL的寬范圍描述能力使它成為高層次設(shè)計(jì)的核心,將設(shè)計(jì)人員的工作重心提高到了系統(tǒng)功 能的實(shí)現(xiàn)與調(diào)試,只需花較少的精力用于物理實(shí)現(xiàn)。 VHDL可以用簡(jiǎn)潔明確的代碼描述來(lái)進(jìn)行復(fù)雜控制邏輯的設(shè)計(jì),靈活且方便,而且也便于設(shè)計(jì) 結(jié)果的交流、保存和重用。 VHDL的設(shè)計(jì)不依賴于特定的器件,方便了工藝的轉(zhuǎn)換。 VHDL是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)語(yǔ)言,為眾多的EDA廠商支持,因此移植性好。

  3.4系統(tǒng)框架結(jié)構(gòu)

  EDA系統(tǒng)框架結(jié)構(gòu)(Framework)是一套配置和使用EDA軟件包的規(guī)范,目前主要的EDA 系統(tǒng)都建立了框架結(jié)構(gòu),如Cadence公司的Design Framework,Mentor公司的Falcon Framework等,這些框架結(jié)構(gòu)都遵守國(guó)際CFI組織(CAD Framework Initiative)制定的統(tǒng)一技術(shù) 標(biāo)準(zhǔn)。Framework能將來(lái)自不同EDA廠商的工具軟件進(jìn)行優(yōu)化組合,集成在一個(gè)易于管理的統(tǒng)一的 環(huán)境之下,而且還支持任務(wù)之間、設(shè)計(jì)師之間在整個(gè)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中實(shí)現(xiàn)信息的傳輸與共享,這是 并行工程和Top-Down設(shè)計(jì)方法的實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)。

  4、EDA技術(shù)的基本設(shè)計(jì)方法

  EDA技術(shù)的每一次進(jìn)步,都引起了設(shè)計(jì)層次上的一個(gè)飛躍。

  物理級(jí)設(shè)計(jì)主要指IC版圖設(shè)計(jì),一般由半導(dǎo)體廠家完成,對(duì)電子工程師并沒(méi)有太大的 意義,因此本文重點(diǎn)介紹電路級(jí)設(shè)計(jì)和系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)。

  4.1電路級(jí)設(shè)計(jì)

  電子工程師接受系統(tǒng)設(shè)計(jì)任務(wù)后,首先確定設(shè)計(jì)方案,同時(shí)要選擇能實(shí)現(xiàn)該方案的合適 元器件,然后根據(jù)具體的元器件設(shè)計(jì)電路原理圖。接著進(jìn)行第一次仿真,包括數(shù)字電路的邏輯模 擬、故障分析、模擬電路的交直流分析、瞬態(tài)分析。系統(tǒng)在進(jìn)行仿真時(shí),必須要有元件模型庫(kù)的支 持,計(jì)算機(jī)上模擬的輸入輸出波形代替了實(shí)際電路調(diào)試中的信號(hào)源和示波器。這一次仿真主要是檢 驗(yàn)設(shè)計(jì)方案在功能方面的正確性。

  仿真通過(guò)后,根據(jù)原理圖產(chǎn)生的電氣連接網(wǎng)絡(luò)表進(jìn)行PCB板的自動(dòng)布局布線。在制作 PCB板之前還可以進(jìn)行后分析,包括熱分析、噪聲及竄擾分析、電磁兼容分析、可靠性分析等,并 且可以將分析后的結(jié)果參數(shù)反標(biāo)回電路圖,進(jìn)行第二次仿真,也稱為后仿真,這一次仿真主要是檢 驗(yàn)PCB板在實(shí)際工作環(huán)境中的可行性。

  由此可見(jiàn),電路級(jí)的EDA技術(shù)使電子工程師在實(shí)際的電子系統(tǒng)產(chǎn)生之前,就可以全面地 了解系統(tǒng)的功能特性和物理特性,從而將開(kāi)發(fā)過(guò)程中出現(xiàn)的缺陷消滅在設(shè)計(jì)階段,不僅縮短了開(kāi)發(fā) 時(shí)間,也降低了開(kāi)發(fā)成本。

  4.2系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)

  進(jìn)入90年代以來(lái),電子信息類產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)出現(xiàn)了兩個(gè)明顯的特點(diǎn):一是產(chǎn)品的復(fù)雜程 度加深,二是產(chǎn)品的上市時(shí)限緊迫。然而電路級(jí)設(shè)計(jì)本質(zhì)上是基于門級(jí)描述的單層次設(shè)計(jì),設(shè)計(jì)的所有工作(包括設(shè)計(jì)輸入,仿真和分析,設(shè)計(jì)修改等)都是在基本邏輯門這一層次上進(jìn)行的,顯然 這種設(shè)計(jì)方法不能適應(yīng)新的形勢(shì),為此引入了一種高層次的電子設(shè)計(jì)方法,也稱為系統(tǒng)級(jí)的設(shè)計(jì)方法。

  高層次設(shè)計(jì)是一種"概念驅(qū)動(dòng)式"設(shè)計(jì),設(shè)計(jì)人員無(wú)須通過(guò)門級(jí)原理圖描述電路,而是 針對(duì)設(shè)計(jì)目標(biāo)進(jìn)行功能描述,由于擺脫了電路細(xì)節(jié)的束縛,設(shè)計(jì)人員可以把精力集中于創(chuàng)造性的概念構(gòu)思與方案上,一旦這些概念構(gòu)思以高層次描述的形式輸入計(jì)算機(jī)后,EDA系統(tǒng)就能以規(guī)則驅(qū)動(dòng) 的方式自動(dòng)完成整個(gè)設(shè)計(jì)。這樣,新的概念得以迅速有效的成為產(chǎn)品,大大縮短了產(chǎn)品的研制周期。不僅如此,高層次設(shè)計(jì)只是定義系統(tǒng)的行為特性,可以不涉及實(shí)現(xiàn)工藝,在廠家綜合庫(kù)的支持 下,利用綜合優(yōu)化工具可以將高層次描述轉(zhuǎn)換成針對(duì)某種工藝優(yōu)化的網(wǎng)表,工藝轉(zhuǎn)化變得輕松容易。

  高層次設(shè)計(jì)步驟如下:

  第一步:按照"自頂向下"的設(shè)計(jì)方法進(jìn)行系統(tǒng)劃分。

  第二步:輸入VHDL代碼,這是高層次設(shè)計(jì)中最為普遍的輸入方式。此外,還可以采用圖形輸入 方式(框圖,狀態(tài)圖等),這種輸入方式具有直觀、容易理解的優(yōu)點(diǎn)。

  第三步:將以上的設(shè)計(jì)輸入編譯成標(biāo)準(zhǔn)的VHDL文件。對(duì)于大型設(shè)計(jì),還要進(jìn)行代碼級(jí)的功能仿 真,主要是檢驗(yàn)系統(tǒng)功能設(shè)計(jì)的正確性,因?yàn)閷?duì)于大型設(shè)計(jì),綜合、適配要花費(fèi)數(shù)小時(shí),在綜合前 對(duì)源代碼仿真,就可以大大減少設(shè)計(jì)重復(fù)的次數(shù)和時(shí)間,一般情況下,可略去這一仿真步驟。

  第四步:利用綜合器對(duì)VHDL源代碼進(jìn)行綜合優(yōu)化處理,生成門級(jí)描述的網(wǎng)表文件,這是將高層次 描述轉(zhuǎn)化為硬件電路的關(guān)鍵步驟。

  綜合優(yōu)化是針對(duì)ASIC芯片供應(yīng)商的某一產(chǎn)品系列進(jìn)行的,所以綜合的過(guò)程要在相應(yīng)的 廠家綜合庫(kù)支持下才能完成。綜合后,可利用產(chǎn)生的網(wǎng)表文件進(jìn)行適配前的時(shí)序仿真,仿真過(guò)程不 涉及具體器件的硬件特性,較為粗略。一般設(shè)計(jì),這一仿真步驟也可略去。

  第五步:利用適配器將綜合后的網(wǎng)表文件針對(duì)某一具體的目標(biāo)器件進(jìn)行邏輯映射操作,包括底 層器件配置、邏輯分割、邏輯優(yōu)化和布局布線。適配完成后,產(chǎn)生多項(xiàng)設(shè)計(jì)結(jié)果:①適配報(bào)告,包 括芯片內(nèi)部資源利用情況,設(shè)計(jì)的布爾方程描述情況等;②適配后的仿真模型;③器件編程文件。 根據(jù)適配后的仿真模型,可以進(jìn)行適配后的時(shí)序仿真,因?yàn)橐呀?jīng)得到器件的實(shí)際硬件特性(如時(shí)延 特性),所以仿真結(jié)果能比較精確地預(yù)期未來(lái)芯片的實(shí)際性能。如果仿真結(jié)果達(dá)不到設(shè)計(jì)要求,就 需要修改VHDL源代碼或選擇不同速度品質(zhì)的器件,直至滿足設(shè)計(jì)要求。

  第六步:將適配器產(chǎn)生的器件編程文件通過(guò)編程器或下載電纜載入到目標(biāo)芯片F(xiàn)PGA或CPLD中。 如果是大批量產(chǎn)品開(kāi)發(fā),通過(guò)更換相應(yīng)的廠家綜合庫(kù),可以很容易轉(zhuǎn)由ASIC形式實(shí)現(xiàn)。

  5、結(jié)束語(yǔ)

  EDA技術(shù)是電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域的一場(chǎng)革命,目前正處于高速發(fā)展階段,每年都有新的EDA工 具問(wèn)世,我國(guó)EDA技術(shù)的應(yīng)用水平長(zhǎng)期落后于發(fā)達(dá)國(guó)家,因此,廣大電子工程人員應(yīng)該盡早掌握這 一先進(jìn)技術(shù),這不僅是提高設(shè)計(jì)效率的需要,更是我國(guó)電子工業(yè)在世界市場(chǎng)上生存、竟?fàn)幣c發(fā)展的 需要。

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