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統(tǒng)計(jì)學(xué)方法在CT低對(duì)比度分辨力自動(dòng)檢測(cè)中的應(yīng)用

時(shí)間:2024-10-26 05:33:35 藥學(xué)畢業(yè)論文 我要投稿
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統(tǒng)計(jì)學(xué)方法在CT低對(duì)比度分辨力自動(dòng)檢測(cè)中的應(yīng)用

作者:余曉鍔,占杰,李萍,李嬋娟


【關(guān)鍵詞】 低對(duì)比度分辨力;統(tǒng)計(jì)學(xué)方法;體模;CT
  Application of statistical method in automatic measurement of CT low contrast resolution
  【Abstract】 AIM: To measure low contrast resolution with statistical method. METHODS: The Catphan phantom and selfprepared experimental phantom were used to measure low contrast resolution based on the analyzing of measurement principle. RESULTS: The result of subjective method was basically consistent with that of the objective method. CONCLUSION: It is feasible to do the automatic measurement for CT low contrast resolution using selfprepared experimental phantom.
  【Keywords】 low contrast resolution;statistical method;phantom;CT
  【摘要】 目的: 利用統(tǒng)計(jì)學(xué)方法測(cè)量CT低對(duì)比度分辨力. 方法:闡述了測(cè)試原理,采用Catphan體模和自制體模對(duì)CT低對(duì)比度分辨力進(jìn)行了測(cè)量. 結(jié)果:主觀法和客觀法測(cè)試結(jié)果相近. 結(jié)論: 可以用自制體模采用統(tǒng)計(jì)學(xué)方法對(duì)CT的低對(duì)比度分辨力進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量.
  【關(guān)鍵詞】 低對(duì)比度分辨力;統(tǒng)計(jì)學(xué)方法;體模;CT
  【中圖號(hào)】 R181.22
  0引言
  CT機(jī)的低對(duì)比度分辨力(LCR)一般采用標(biāo)準(zhǔn)低分體模來測(cè)量,通過視覺觀察確定其分辨力大小. 這種方法直觀方便,國際上廣為應(yīng)用. 但不足之處在于讀數(shù)不連續(xù),肉眼觀察主觀性較大. 這種對(duì)圖像的主觀評(píng)價(jià)就像對(duì)偽影的判斷一樣,它不可能精確的表示系統(tǒng)的對(duì)比度分辨力. 而且市場上不同的檢測(cè)體模對(duì)同一系統(tǒng)會(huì)產(chǎn)生不同的評(píng)價(jià)結(jié)果,這是因?yàn)檫@些結(jié)果在一定程度上依賴于能譜和體模材料的溫度,因此需要對(duì)低對(duì)比度測(cè)量進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化[1-3]. 我們借助統(tǒng)計(jì)學(xué)上的方法來分析均勻?qū)由系臄?shù)據(jù)從而得到低分的結(jié)果,具有的明顯優(yōu)點(diǎn)有:對(duì)體模的要求低,容易實(shí)現(xiàn),擺放和定位容易,測(cè)量結(jié)果具有客觀性且定量嚴(yán)格.
  1材料和方法
  1.1材料采用了一種統(tǒng)計(jì)學(xué)的方法,基于的原理是:如果我們?cè)谕瑯拥臈l件下測(cè)量多個(gè)同樣大小的低對(duì)比度物體的值,則這些隨機(jī)變化的值也符合高斯分布. 同樣的,多個(gè)與低對(duì)比度物體同樣大小的感興趣區(qū)域(ROI)上的背景CT值也符合高斯分布,并且與之具有相同的方差(圖1),因?yàn)榈蛯?duì)比度物體和背景是在相同的條件下掃描的,它們是一次掃描的結(jié)果,而且它們之間的衰減系數(shù)的差異非常小,這兩個(gè)分布之間唯一的不同只在于它們的期望值. 如果我們采用兩個(gè)分布之間的中點(diǎn)作為能將低分物質(zhì)從背景中區(qū)別出來的域值,當(dāng)兩個(gè)分布的均值差異為3.29 σμ時(shí),假陽性為5%(背景分布曲線下超過域值的部分),其中σμ為分布的標(biāo)準(zhǔn)差;同理,假陰性也是5%(低分物體的分布曲線下低于域值的部分). 當(dāng)然,如果采用更高的置信度,兩組分布的均值必須相差更大. 受檢設(shè)備為GE Lightspeed16;檢測(cè)模塊為CATPHAN體模的低分模塊 CTP528(模塊1)和自制均勻水模(模塊2).
  圖1統(tǒng)計(jì)學(xué)方法測(cè)CT低對(duì)比度分辨力的原理(水模的圖像中心被劃分為若干個(gè)ROI)(略)
  1.2方法通過前面的分析,低對(duì)比度分辨力可以通過計(jì)算機(jī)的分析得到,首先要在一定的劑量水平上掃描一個(gè)均勻水模(選擇合適的管電壓,管電流,層厚,掃描時(shí)間等. 表1). 然后重建體模,將重建圖像的中心區(qū)域分為許多個(gè)小格子,格子的大小與感興趣的低分物體的大小相同,取得每個(gè)格子中的CT均值(例如圖中有49個(gè)均值). 然后計(jì)算出這些值的標(biāo)準(zhǔn)差σμ,基于我們前面的討論,這些低對(duì)比度物體的對(duì)比度應(yīng)該大于3.29 σμ才能以95%的置信度從背景中被區(qū)分出來. 這種分析方法可以重復(fù)進(jìn)行以檢驗(yàn)不同大小物體的對(duì)比度水平.
  表1實(shí)驗(yàn)掃描條件(標(biāo)準(zhǔn)算法)(略)

2結(jié)果
  改變層厚,kVp,mAs等參數(shù)測(cè)量模塊,得到圖像,用matlab程序計(jì)算得到結(jié)果. 要分辨與方格大小相同的目標(biāo)物質(zhì)時(shí),可將所需要的CT值差異換成對(duì)比度,即乘以1‰就可與Catphan比照,如直徑2 mm的目標(biāo)物質(zhì)需要5.5672×1‰,即0.55672%以上的對(duì)比度才能分辨,而直徑3 mm的目標(biāo)物質(zhì)需要0.36817%以上的對(duì)比度才能分辨. 得出的結(jié)果與Catphan的結(jié)果基本吻合(表2).
  表2自制均勻模塊的各直徑大小的目標(biāo)物質(zhì)的低對(duì)比度測(cè)量結(jié)果(略)
  3討論
  3.1測(cè)試方法分析由于噪聲是影響CT中LCR最直接、最密切相關(guān)的因素,噪聲的增大或減小,必然同時(shí)引起CT中LCR的增大或減小,所以可以借助噪聲來分析CT機(jī)LCR的影響因素,IEC的CT標(biāo)準(zhǔn)就規(guī)定只測(cè)噪聲,不測(cè)低對(duì)比度分辨力. 如果用噪聲來衡量LCR,則只用簡單的測(cè)量工具就能得到結(jié)果,不會(huì)有人為的誤差,但其不足之處在于不符合低對(duì)比度分辨力的定義,噪聲與低分之間的具體數(shù)據(jù)難以對(duì)應(yīng)起來[3-4]. 傳統(tǒng)的CT低對(duì)比度測(cè)試都是通過掃描標(biāo)準(zhǔn)體模得到的,需要在特定的掃描條件(kVp,mAs,層厚等)和重建算法下進(jìn)行,并且需要多次掃描,通過人眼的

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