用改進(jìn)的遺傳算法提取PIN光探測(cè)器模型參數(shù)

全部作者： 梅文麗 黃永清 任曉敏 第1作者單位： 北京郵電大學(xué) 論文摘要： 將改進(jìn)的遺傳算法用于PIN光探測(cè)器小信號(hào)等效電路模型參數(shù)的提取和優(yōu)化中，實(shí)現(xiàn)PIN光探測(cè)器S21、S22參數(shù)的測(cè)量值與模擬值擬合；改進(jìn)后的遺傳算法自動(dòng)優(yōu)化了遺傳、雜交和變異算子，節(jié)省了尋找最佳遺傳、雜交和變異概率的時(shí)間，提高了參數(shù)提取的速度。 關(guān)鍵詞： 遺傳算法，小信號(hào)等效模型，參數(shù)提取，PIN光探測(cè)器 (瀏覽全文) 發(fā)表日期： 2008年02月20日 同行評(píng)議：

本文利用參考文獻(xiàn)[2]的具體方法，結(jié)合同研究組已發(fā)表的模型 [A. Miao et. al., Chin. J. Semicond., 28(12), pp.1878-1882, (Dec. 2007)]等，籠統(tǒng)地給出了1些結(jié)果，參考價(jià)值甚微。

綜合評(píng)價(jià)： 修改稿： 注：同行評(píng)議是由特聘的同行專家給出的評(píng)審意見(jiàn)，綜合評(píng)價(jià)是綜合專家對(duì)論文各要素的評(píng)議得出的數(shù)值，以1至5顆星顯示。

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