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接觸電阻測試系統(tǒng)的研制
全部作者: 劉云 第1作者單位: 北京郵電大學(xué) 論文摘要: 接觸電阻是用來表示元器件接觸點(diǎn)之間好壞的標(biāo)準(zhǔn)之1,所以接觸電阻的測量必不可少,本文對(duì)接觸電阻測試儀的研制進(jìn)行了闡述,詳細(xì)介紹了系統(tǒng)的各部分組成以及各部分所完成的功能。 關(guān)鍵詞: 接觸電阻,4點(diǎn)法,模數(shù)轉(zhuǎn)換,串口通信 (瀏覽全文) 發(fā)表日期: 2007年07月31日 同行評(píng)議:
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