優(yōu)納科技軟件測(cè)試面試題目
1.描述下V和W模型?
2.V和W模型區(qū)別?
3.白盒測(cè)試方法?
4.QTP和LR知識(shí)
5.會(huì)用C/C++編寫測(cè)試用例嗎?
能否熟練編寫LR，QTP腳本?
6.測(cè)試用例包含那些內(nèi)容?
7.英文自我介紹?
8.英文描述測(cè)試用例?
9.怎樣編寫腳本實(shí)現(xiàn)相機(jī)拍攝?
如果相機(jī)位置改變了，怎樣測(cè)試?(這題挺難，我不太明白什么意思。)
10.向公司提問。
拓展閱讀：
軟件測(cè)試是使用人工操作或者軟件自動(dòng)運(yùn)行的方式來檢驗(yàn)它是否滿足規(guī)定的需求或弄清預(yù)期結(jié)果與實(shí)際結(jié)果之間的差別的過程。
它是幫助識(shí)別開發(fā)完成(中間或最終的版本)的計(jì)算機(jī)軟件(整體或部分)的正確度(correctness) 、完全度(completeness)和質(zhì)量(quality)的軟件過程;是SQA(software quality assurance)的重要子域。
Glenford J.Myers曾對(duì)軟件測(cè)試的目的提出過以下觀點(diǎn)：
(1)測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)程序中的錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過程。
(2)好的測(cè)試方案是極可能發(fā)現(xiàn)迄今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試方案。
(3)成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試。
(4)測(cè)試并不僅僅是為了找出錯(cuò)誤。通過分析錯(cuò)誤產(chǎn)生的原因和錯(cuò)誤的'發(fā)生趨勢(shì)，可以幫助項(xiàng)目管理者發(fā)現(xiàn)當(dāng)前軟件開發(fā)過程中的缺陷，以便及時(shí)改進(jìn)。
(5)這種分析也能幫助測(cè)試人員設(shè)計(jì)出有針對(duì)性的測(cè)試方法，改善測(cè)試的效率和有效性。
(6)沒有發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的測(cè)試也是有價(jià)值的，完整的測(cè)試是評(píng)定軟件質(zhì)量的一種方法。
(7)另外，根據(jù)測(cè)試目的的不同，還有回歸測(cè)試、壓力測(cè)試、性能測(cè)試等，分別為了檢驗(yàn)修改或優(yōu)化過程是否引發(fā)新的問題、軟件所能達(dá)到處理能力和是否達(dá)到預(yù)期的處理能力等。
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